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MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)

發(fā)布時間:2016-07-28 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】對于在反饋環(huán)路中采用MEMS慣性測量單元(IMU)的高性能運(yùn)動控制系統(tǒng),傳感器對準(zhǔn)誤差常常是其關(guān)鍵考慮之一。對于IMU中的陀螺儀,傳感器對準(zhǔn)誤差描述各陀螺儀的旋轉(zhuǎn)軸與系統(tǒng)定義的“慣性參考系”(也稱為“全局坐標(biāo)系”)之間的角度差。為了管控對準(zhǔn)誤差對傳感器精度的影響,可能需要獨(dú)特的封裝、特殊的組裝工藝,甚至在最終配置中進(jìn)行復(fù)雜的慣性測試。
 
所有這些事情都可能會對項(xiàng)目管理的重要指標(biāo):如計(jì)劃、投資和各系統(tǒng)中IMU相關(guān)的總成本等,產(chǎn)生重大影響。因此,在設(shè)計(jì)周期的早期,當(dāng)還有時間界定系統(tǒng)架構(gòu)以實(shí)現(xiàn)最有效解決方案的時候,對傳感器對準(zhǔn)誤差加以考慮是十分有必要的。畢竟,沒有人希望在燒掉項(xiàng)目80%的計(jì)劃時間和預(yù)算之后才發(fā)現(xiàn),為了滿足最終用戶不容商量的交貨要求,其并不昂貴的傳感器需要增加數(shù)百甚至數(shù)千美元的意外成本,那樣可就糟糕至極了!
 
設(shè)計(jì)系統(tǒng)的IMU功能架構(gòu)時,有三個基本對準(zhǔn)概念需要了解和評估:誤差估計(jì)、對準(zhǔn)誤差對系統(tǒng)關(guān)鍵行為的影響以及電子對準(zhǔn)(安裝后)。初始誤差估計(jì)應(yīng)當(dāng)包括IMU以及在運(yùn)行過程中將其固定就位的機(jī)械系統(tǒng)這兩方面的誤差貢獻(xiàn)。了解這些誤差對系統(tǒng)關(guān)鍵功能的影響有助于確立相關(guān)性能目標(biāo),防止過度處理問題,同時管控?zé)o法兌現(xiàn)關(guān)鍵性能和成本承諾的風(fēng)險(xiǎn)。最后,為了優(yōu)化系統(tǒng)的性能或以成本換空間,可能需要某種形式的電子對準(zhǔn)。
 
預(yù)測安裝后的對準(zhǔn)誤差
 
一個應(yīng)用的對準(zhǔn)精度取決于兩個關(guān)鍵因素:IMU的對準(zhǔn)誤差和在運(yùn)行過程中將其固定就位的機(jī)械系統(tǒng)的精度。IMU的貢獻(xiàn)(ΨIMU)和系統(tǒng)的貢獻(xiàn)(ΨSYS)通常并不相關(guān),估計(jì)總對準(zhǔn)誤差時,常常是利用和方根計(jì)算將這兩個誤差源加以合并:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
某些IMU規(guī)格表通過“軸到封裝對準(zhǔn)誤差”或“軸到坐標(biāo)系對準(zhǔn)誤差”等參數(shù)來量化對準(zhǔn)誤差。圖1以夸張方式顯示了ADIS16485中各陀螺儀相對于其封裝邊緣的對準(zhǔn)誤差。圖中的綠色虛線代表封裝定義的參考系的各軸。實(shí)線代表封裝內(nèi)部陀螺儀的旋轉(zhuǎn)軸,ΨIMU代表三個對準(zhǔn)誤差項(xiàng)的最大值(ΨX、ΨY、ΨZ)。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
圖1: ADI16485軸到坐標(biāo)系的對準(zhǔn)誤差。
 
為了預(yù)測系統(tǒng)對準(zhǔn)誤差的貢獻(xiàn)(公式1中的ΨSYS),需要分析機(jī)械缺陷導(dǎo)致IMU在系統(tǒng)中的??课恢孟鄬τ谌肿鴺?biāo)系偏斜的可能性。使用焊接到印刷電路板的IMU時,這將涉及到以下考量因素:原始放置精度、焊料沉積的差異、回流焊期間的浮動、PCB關(guān)鍵特性(如安裝孔等)的容差以及系統(tǒng)框架本身的容差等。使用模塊式IMU時,它可以與系統(tǒng)外殼實(shí)現(xiàn)更直接的耦合,如圖2所示。此類接口有兩個關(guān)鍵機(jī)械特性可幫助管控安裝偏斜誤差:安裝架(4×)和安裝巢。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
圖2:內(nèi)嵌式底板設(shè)計(jì)概念。
 
在此類安裝方案中,四個安裝架的高度差異就是機(jī)械差異的一個例子,可能引起x軸和y軸的安裝偏斜。圖3以夸張方式說明了這種偏差(H1與H2)對x軸安裝偏斜(ΨX)的影響。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
圖3:安裝架差異引起的對準(zhǔn)誤差。
 
Mounting Ledges: 安裝架
 
公式2反映了x軸偏斜角度(ΨX)與高度差(H2到H1)和兩個接觸點(diǎn)間跨度(W到W1)的關(guān)系:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
安裝架高度差異對y軸的安裝偏斜也有類似的影響。此時,?用封裝長度(L)替換公式2中的寬度(W),便可得到如下用于估計(jì)y軸偏斜角度(ΨY)的關(guān)系式。
 
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圖4提供了另一個例子來說明機(jī)械特性如何影響z軸的安裝偏斜。本例中,機(jī)械螺絲先穿過IMU主體的安裝孔(位于四角),再穿過安裝架的孔,最后進(jìn)入安裝架背部的鎖緊螺母。這種情況下,機(jī)械螺絲的直徑(DM)與底板中相關(guān)通孔的直徑(DH)之間的差異會引起z軸偏斜。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
圖4:安裝螺絲/孔對z軸偏斜角度的影響。
 
公式4反映了z軸安裝偏斜(ΨZ)與直徑差和旋轉(zhuǎn)半徑(RS,等于相對兩角的兩個安裝螺絲間距離的一半)的關(guān)系。
 
7
 
示例1
 
使用2mm機(jī)械螺絲將ADIS16485安裝到6mm×6mm安裝架上,安裝架的孔直徑為2.85mm,高度容差為0.2mm,估算與此相關(guān)的總對準(zhǔn)誤差。
 
求解
 
使用44mm的標(biāo)稱寬度(W),x軸偏斜角度(見圖3)預(yù)測值為0.3度。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
封裝各邊上安裝孔間的標(biāo)稱距離分別為39.6mm和42.6mm。這些尺寸構(gòu)成直角三角形的兩邊,其斜邊等于封裝相對兩角的兩個孔之間的距離。旋轉(zhuǎn)半徑
 
(RS,見圖4)等于此距離的一半(29.1mm),因此z軸偏斜的預(yù)測值為0.83度。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
對于式1中的復(fù)合預(yù)測公式,ΨSYS等于ΨZ(估算最大值),ΨIMU等于1度(依據(jù)IMU數(shù)據(jù)手冊中的軸到坐標(biāo)系對準(zhǔn)誤差規(guī)格)。因此,總對準(zhǔn)誤差估算值為1.28度。
 
對準(zhǔn)誤差對系統(tǒng)精度的影響
 
為應(yīng)用制定精度標(biāo)準(zhǔn)時,了解對準(zhǔn)誤差與其對陀螺儀精度影響之間的基本關(guān)系是一個很好的著手點(diǎn)。為了說明該過程,圖5提供了三軸陀螺儀系統(tǒng)的通用模型。圖中的三條綠色實(shí)線代表全局坐標(biāo)系的三軸,黑色實(shí)線代表所有三個陀螺儀的旋轉(zhuǎn)軸,帶Ψ標(biāo)簽代表全局坐標(biāo)系與陀螺儀軸之間的對準(zhǔn)誤差。公式5、公式6和公式7顯示了對準(zhǔn)誤差對各陀螺儀繞全局坐標(biāo)系中指定軸旋轉(zhuǎn)的響應(yīng)的影響。在這些公式中,對準(zhǔn)角度誤差的余弦引入一個比例誤差。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
圖5:正交三軸陀螺儀的對準(zhǔn)誤差。
 
對準(zhǔn)誤差還會對各軸產(chǎn)生跨軸影響。為了量化這些影響,需要將各軸的對準(zhǔn)角度誤差分解為與其它兩軸相關(guān)的兩個分量。例如,ΨX有一個y軸分量(φXY)和一個z軸分量(φXZ),導(dǎo)致x軸陀螺儀對繞全局坐標(biāo)系中所有三軸旋轉(zhuǎn)(ωX, ωY, ωZ)的響應(yīng)擴(kuò)展如下:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
y軸和z軸陀螺儀也有同樣的擴(kuò)展:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
對公式8、公式9和公式10的兩側(cè)積分,可得到關(guān)于角位移的類似關(guān)系。在得到的公式11、公式12和公式13中,我們關(guān)心的角度是相對于全局坐標(biāo)系的角位移(θXω, θYω, θZω)和各陀螺儀的積分(θXG, θYG, θZG)。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
示例2
 
一種地面無人駕駛車輛(UV)利用MEMS IMU作為平臺穩(wěn)定控制(PSC)系統(tǒng)中的反饋傳感器以支持其天線。此系統(tǒng)采用RSS調(diào)諧器環(huán)路,后者要求方位角和仰角保持在±1?范圍內(nèi),以便維持連續(xù)通信。在大多數(shù)動態(tài)情況下,PSC高度依賴y軸陀螺儀測量來控制仰角,以及依賴z軸陀螺儀測量來控制方位角。在此類動態(tài)情況下,航向角(θZω)的最大變化為30?,并且在作這種機(jī)動期間沒有繞x軸或y軸的旋轉(zhuǎn)(θXω = θYω = 0)。
 
求解
 
由于繞x軸和y軸的旋轉(zhuǎn)為0,公式8和公式9可簡化為:
 
從y軸開始,設(shè)θYG的最大邊界為1?,求解對準(zhǔn)誤差項(xiàng)ΦYZ。這樣便可求得y軸陀螺儀的最大允許對準(zhǔn)誤差為1.9度。
 
對于z軸,設(shè)θZω等于30?,θZG和θZω之差的最大邊界為1度,然后求解ΨZ。這樣便可求得z軸陀螺儀的最大允許對準(zhǔn)誤差為14.8度。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
上述計(jì)算表明,對于這種特定機(jī)動/情形,y軸和z軸之間的跨軸行為要求對準(zhǔn)精度約為1.9度。

電子對準(zhǔn)
 
在IMU和安裝系統(tǒng)不滿足關(guān)鍵系統(tǒng)目標(biāo)的情況下,電子對準(zhǔn)提供了一種減小對準(zhǔn)誤差的方法。該過程有兩個重要步驟:測定對準(zhǔn)誤差項(xiàng)(IMU安裝之后)和制定一個校正對準(zhǔn)矩陣。將該矩陣應(yīng)用于陀螺儀陣列時,陀螺儀將像已與全局坐標(biāo)系對準(zhǔn)一樣作出響應(yīng)。公式14為此過程提供了一個系統(tǒng)模型,其中繞全局坐標(biāo)系各軸的旋轉(zhuǎn)(ω)是三個系統(tǒng)輸入,三個陀螺儀響應(yīng)(G)是系統(tǒng)輸出,3 × 3矩陣(M)代表輸入與輸出之間的系統(tǒng)行為(包括對準(zhǔn)誤差)。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
通過簡單的算術(shù)操作可得,陀螺儀測量結(jié)果(G)與M的逆矩陣(M–1)的乘積等于全局坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)陣列(ω)。因此,對準(zhǔn)矩陣等于M–1。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
基于公式8、公式9和公式10,可將公式14擴(kuò)展以包括對準(zhǔn)誤差項(xiàng),如公式16所示,公式17和公式18是更一般形式:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
一次僅繞一個軸旋轉(zhuǎn)整個系統(tǒng)可將系統(tǒng)模型簡化到足夠簡單的程度,使得矩陣中的每個元素都可以通過一次陀螺儀測量獲得。例如,讓系統(tǒng)繞x軸旋轉(zhuǎn)(ωX = ωTR, ωY = 0, ωZ = 0),同時觀測所有三個軸,則M11、M21和M31的關(guān)系可簡化如下:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
采用同樣的方法,繞y軸旋轉(zhuǎn)(ωX = 0, ωY = ωTR, ωZ = 0),則M12、M22和M32的關(guān)系可簡化如下:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
最后,繞z軸旋轉(zhuǎn)(ωX = 0, ωY = 0, ωZ = ωTR),則M13、M23和M33的關(guān)系可簡化如下:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
顯然,運(yùn)動配置(ω)的精度和陀螺儀測量(G)對此過程有直接影響。具體說來,偏軸運(yùn)動對此過程有顯著影響,當(dāng)購買和部署依賴這些要求的慣性測試設(shè)備時,必須予以考慮。就陀螺儀精度而言,偏置和噪聲是兩大威脅,在此過程中通常需要考慮。為了管控陀螺儀測量中殘余偏置誤差(bE)的影響,有一個技巧是使用兩個不同的旋轉(zhuǎn)速率——大小相等但方向相反。例如,繞y軸沿正方向旋轉(zhuǎn)時(ωY = ωTR, ωX = ωZ = 0),公式28描述了z軸陀螺儀響應(yīng)和偏置誤差。公式29則描述了繞y軸沿負(fù)方向旋轉(zhuǎn)時(ωY = –ωTR, ωX = ωZ = 0)z軸陀螺儀的響應(yīng)。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
變換公式29,寫出偏置誤差(bE)的表示形式,代入公式28中,然后求解M32。注意偏置誤差(bE)是如何從公式中消除的。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
此公式假設(shè)偏置誤差在兩次測量中保持不變,這并不是一個符合實(shí)際的期望,不同測量之間可能存在偏差(溫度、時間和噪聲),對此應(yīng)有清醒的認(rèn)識。當(dāng)在穩(wěn)定的溫度條件下連續(xù)進(jìn)行測量時,噪聲常常是此過程中需要管控的關(guān)鍵誤差。在陀螺儀測量中,可接受的噪聲水平取決于對準(zhǔn)精度目標(biāo)(ΨT)和測定過程中各軸上的旋轉(zhuǎn)速率(ωTR)。慣性條件保持不變時,一種常用的降噪技術(shù)是對陀螺儀數(shù)據(jù)求均值。利用Allan方差曲線這個工具可以了解可重復(fù)性(噪聲)與均值時間之間的權(quán)衡關(guān)系。
 
示例3
 
如果特性測定期間的旋轉(zhuǎn)速率為100?/s,對準(zhǔn)精度目標(biāo)為0.1度,噪聲(rms)必須比對準(zhǔn)誤差目標(biāo)低10倍,那么為了實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo),我們需要對ADIS16485的輸出求多長時間的均值?
 
求解
 
使用陀螺儀與輸入之間的一般響應(yīng)(在測試平臺上旋轉(zhuǎn)),下面的計(jì)算表明:各陀螺儀的總噪聲(rms)必須低于62?/小時。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
圖6通過一個例子說明了如何使用此IMU的Allan方差曲線來選擇均值時間以滿足上述要求。本例中,0.1秒的均值時間可滿足62?/小時的可重復(fù)性目標(biāo),還有一些裕量。
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
圖6:ADIS16485 Allan方差曲線。
 
注意,這種方法僅針對傳感器本身的噪聲。若測試平臺有振動,會增加陀螺儀測量的噪聲,則可能需要額外的考慮和濾波。
 
簡化對準(zhǔn)過程的技巧和竅門
 
開發(fā)一個具有必要的精度和環(huán)境控制溫度的三軸慣性測試系統(tǒng),通常需要在固定設(shè)備和工程開發(fā)資源方面投入巨資。對于那些正在開發(fā)第一代或第二代系統(tǒng),在開發(fā)過程中有很多問題需要回答的公司,可能沒有此類資源或時間。這就產(chǎn)生了簡化解決方案的需求,通過謹(jǐn)慎選擇IMU并利用儀器或應(yīng)用中的自然運(yùn)動可以實(shí)現(xiàn)簡化。
 
例如,有時候使用角度可能比使用角速率測量來得更方便。公式31是公式11、公式12和公式13合并的結(jié)果,它用相對于全局坐標(biāo)系的角度(θXω, θYω, θZω)和陀螺儀輸出的積分(θXG, θYG, θZG)來代表系統(tǒng)行為(M):
 
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關(guān)于器件選擇,軸到軸對準(zhǔn)誤差是一個需要考慮的重要參數(shù),因?yàn)楫?dāng)它低于軸到封裝對準(zhǔn)誤差參數(shù)時,將有助于降低與電子對準(zhǔn)相關(guān)的慣性測試配置(公式16)的復(fù)雜度。軸到封裝對準(zhǔn)誤差參數(shù)描述的是陀螺儀相對于外部機(jī)械基準(zhǔn)的方位,而軸到軸對準(zhǔn)誤差參數(shù)描述的是各陀螺儀相對于另外兩個陀螺儀的方位。多數(shù)情況下,MEMS IMU中三個陀螺儀的理想方位是彼此成90?,因此軸到軸對準(zhǔn)誤差與此行為的另一個常見參數(shù)(跨軸靈敏度)相關(guān)。利用公式7作為參考,軸到軸對準(zhǔn)誤差代表這三個關(guān)系的最大值:
 
MEMS慣性測量單元(IMU)/陀螺儀對準(zhǔn)基礎(chǔ)
 
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圖7:軸到軸對準(zhǔn)誤差。
 
制定電子對準(zhǔn)流程時,軸到軸對準(zhǔn)誤差參數(shù)確定的是假設(shè)傳感器完全正交對準(zhǔn)時的誤差。使用完全正交這一假設(shè)條件,僅旋轉(zhuǎn)兩軸便可對準(zhǔn)所有三軸。例如,繞y軸和z軸旋轉(zhuǎn)便可直接觀測到M12 、M13、M22、M23、M32和M33。假設(shè)完全正交對準(zhǔn)并應(yīng)用三角函數(shù),便可利用以上6個元素和以下關(guān)系式計(jì)算其他三個元素(M11、M21和M31):
 
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以上等式可將系統(tǒng)模型更新如下,其中M矩陣中的所有9個元素用從y軸和z軸旋轉(zhuǎn)得來的6個元素表示。
 
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結(jié)論
 
慣性MEMS技術(shù)在過去幾年已經(jīng)取得長足進(jìn)步,為系統(tǒng)開發(fā)商在復(fù)雜權(quán)衡范圍內(nèi)提供了廣泛的選項(xiàng),包括尺寸、功耗、單位成本、集成成本和性能。對于首次利用MEMS IMU開發(fā)運(yùn)動控制系統(tǒng)的人員,為了選擇合適的IMU并準(zhǔn)備利用該IMU來支持關(guān)鍵系統(tǒng)需求,會有很多東西需要了解。對準(zhǔn)精度對性能、成本和計(jì)劃方面的關(guān)鍵目標(biāo)會有重大影響,必須予以認(rèn)真考慮。在概念和架構(gòu)設(shè)計(jì)階段,即使很簡單的分析工具也能幫助找出潛在的風(fēng)險(xiǎn),因此應(yīng)當(dāng)趁著還有時間影響器件選擇、機(jī)械設(shè)計(jì)、安裝后校準(zhǔn)(電子對準(zhǔn))、初步成本預(yù)測和關(guān)鍵計(jì)劃節(jié)點(diǎn)的時候,多做些工作。更進(jìn)一步說,識別MEMS IMU的關(guān)鍵指標(biāo)和機(jī)會,用系統(tǒng)中提供的自然運(yùn)動代替三軸慣性測試設(shè)備以最大限度地發(fā)揮系統(tǒng)的價(jià)值(性能和總開發(fā)成本),將是非常有益的。
 
 
 
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