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深入分析“時間交錯技術(shù)”
時間交錯技術(shù)可使用多個相同的 ADC（文中雖然僅討論了 ADC，但所有原理同樣適用于 DAC 的時間交錯特性），并以比每一個單獨數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡單說來，時間交錯（IL）由時間多路復用 M 個相同的 ADC 并聯(lián)陣列組成。
2018-01-18
時間交錯技術(shù) ADC 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器 數(shù)據(jù)采樣
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選對了連接器，卻沒考慮觸點的后果很嚴重
任何有一點實際經(jīng)驗的工程師都知道，互連電纜和連接器是可靠性設計中必不可少的重要元素。它們是連接模擬和數(shù)字系統(tǒng)的全被動模擬組件。互連安裝不正確，沒綁緊，應力釋放不完全，彎曲太頻繁，或工作在太緊的彎曲半徑上，這些都可能導致徹底的系統(tǒng)故障。
2018-01-17
產(chǎn)業(yè)前沿 EDA/IP/IC設計 連接器
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三大維度+關(guān)鍵指標，選出最適合你的MEMS加速度計
加速度計能夠測量加速度、傾斜、振動或沖擊，因此適用于從可穿戴健身裝置到工業(yè)平臺穩(wěn)定系統(tǒng)的廣泛應用。市場上有成百上千的加速度計器件可供選擇，其成本和性能各不相同。本文討論加速度計的關(guān)鍵參數(shù)和特性，以及它們與傾斜和穩(wěn)定應用的關(guān)系，從而幫助你選擇最合適的加速度計。
2018-01-16
MEMS加速度計 測試測量 關(guān)鍵參數(shù) 特性 應用領域
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簡單了解電阻器常見的幾種失效模式
電阻器失效機理是多方面的，工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)生的各種理化過程是引起電阻器老化的原因。失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機理：是導致失效的物理、化學、熱力學或其他過程。
2018-01-16
電阻器 失效模式
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五個問題，鬧明白低壓差分信號隔離那些事
低壓差分信號傳輸(LVDS)是一種在更高性能轉(zhuǎn)換器和高帶寬FPGA或ASICI/O中常用的高速接口。差分信號傳輸對于外部電磁干擾(EMI)具有很強的抑制能力（因為反相與同相信號之間的互相耦合所致），同時也相應地可以將任何因為LVDS信號傳輸所造成的EMI最小化。在LVDS接口上增加隔離是一種透明解決方案，可以...
2018-01-15
差分信號 電流隔離 電磁干擾
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深度解析開關(guān)電源雙極性晶體管的開關(guān)特性
所謂雙極性，是指有兩個PN結(jié)的普通開關(guān)三極管，在“彩顯”中一般作為開關(guān)電源、行輸出級和S校正電路的切換開關(guān)。三極管的開關(guān)狀態(tài)和模擬放大狀態(tài)的要求明顯不同，對開關(guān)特性的描述也不是通常的fT、fa所能概括的。
2018-01-15
開關(guān)電源 雙極性 晶體管
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一款基于法拉電容的UPS電路設計思路
您是否有遇到使用中的程序無故丟失？產(chǎn)品調(diào)試非常穩(wěn)定，布置到現(xiàn)場后頻繁系統(tǒng)崩潰和數(shù)據(jù)遺失，亦或產(chǎn)品應用一年后批量涌現(xiàn)存儲器件損壞？本文將深入探明這些問題的原因及提供參考解決方案。
2018-01-15
控制器 存儲器 ARM
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Sigfox SDR電子狗開發(fā)者平臺現(xiàn)通過Digi-Key進行全球發(fā)售
美國明尼蘇達州錫夫里弗福爾斯市——Sigfox SDR 電子狗專為設備與方案創(chuàng)客設計，旨在加快開發(fā)與測試速度，現(xiàn)通過全球電子元器件分銷商 Digi-Key Electronics 在全球范發(fā)售。SDR 電子狗允許 Sigfox 設備開發(fā)獨立于 Sigfox 公共網(wǎng)絡覆蓋。
2018-01-15
Sigfo SDR 電子狗 Digi-Key 全球發(fā)售
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一起來找“茬”——這樣搞定差動放大器性能優(yōu)化
有時需要在有較大共模信號的情況下測量小信號。在這類應用中，通常使用兩個或三個運算放大器的集成儀表放大器。盡管儀表放大器具有出色的共模抑制比(CMRR)，但價格因素,性能指標阻礙了其在此類應用中的使用。下面就來分享構(gòu)建差動放大器及其性能優(yōu)化方法！
2018-01-12
差動放大器 性能 儀表放大器
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