【導(dǎo)讀】集成電路型號很多，內(nèi)部電路千變?nèi)f化，故檢測集成電路的好壞較為復(fù)雜。下面介紹一些常用的集成電路的好壞檢測方法。
集成電路型號很多，內(nèi)部電路千變?nèi)f化，故檢測集成電路的好壞較為復(fù)雜。下面介紹一些常用的集成電路的好壞檢測方法。
開路測量電阻法
開路測量電阻法是指在集成電路未與其他電路連接時，通過測量集成電路各個引腳與接地引腳之間的電阻來判別好壞的方法。
集成電路都有一個接地引腳（GND），其他各個引腳與接地引腳之間都有一定的電阻，由于同型號的集成電路內(nèi)部電路相同，因此同型號的正常集成電路的各個引腳與接地引腳之間的電阻均是相同的。根據(jù)這一點，可使用開路測量電阻的方法來判別集成電路的好壞。
在檢測時，萬用表撥至R×100擋，紅表筆固定接被測集成電路的接地引腳，黑表筆依次接其他各個引腳，如圖16—4所示，測出并記下各個引腳與接地引腳之間的電阻，然后用同樣的方法測出同型號的正常集成電路的各個引腳對地電阻，再將兩個集成電路各引腳對地電阻一一對照，如果兩者完全相同，則被測集成電路正常，如果有引腳電阻 差距很大，則被測集成電路損壞。在測量各個引腳電阻時萬用表選用同一擋位，如果因某個引腳電阻 過大或過小難以觀察而需要更換擋位時，則測量正常集成電路的該引腳電阻時也要換到該擋位。這是因為集成電路內(nèi)部大部分是半導(dǎo)體元件，不同的歐姆擋提供的電流不同，對于同一個引腳，使用不同歐姆擋測量時內(nèi)部元件導(dǎo)通程度有所不同，故不同的歐姆擋測LM324N 同一個引腳得到的阻值可能有一定的差距。
采用開路測量電阻法判別集成電路的好壞比較容易，并且對大多數(shù)集成電路都適用，其缺點是檢測時需要找一個同型號的正常集成電路作為對照，解決這個問題的方法是平時多積累測量一些常用集 成電路的開路電阻的數(shù)據(jù)，以便以后檢測同型號集成電路時作為參考，另外也可查閱一些資料來獲得這方面的數(shù)據(jù)。圖16—5所示是一種常用的內(nèi)部有4個運算放大器的集成電路LM324，表16—1中列出了其開路電阻數(shù)據(jù)，測量使用數(shù)字萬用表的200k2擋，
表中有兩組數(shù)據(jù)，一組為紅表筆接11腳（接地腳）、 黑表筆接其他各個引腳測得的數(shù)據(jù)，另一組為黑表筆接11腳、紅表筆接其他各個引腳測得的數(shù)據(jù)，在檢 測LM324的好壞時，也應(yīng)使用數(shù)字萬用表的200k輸出輸出3 擋，再將實測的各個引腳數(shù)據(jù)與表中數(shù)據(jù)進(jìn)行對照。
免責(zé)聲明：本文為轉(zhuǎn)載文章，轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息，版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題，請聯(lián)系小編進(jìn)行處理。
推薦閱讀：
大聯(lián)大汽車技術(shù)應(yīng)用路演重慶場圓滿落幕
采用創(chuàng)新的FPGA 器件來實現(xiàn)更經(jīng)濟且更高能效的大模型推理解決方案
