晶片級射頻測量系統(tǒng)的選定和配置是一項(xiàng)費(fèi)時(shí)費(fèi)力的工作，客戶通常需要對多個(gè)供應(yīng)商提供的測試設(shè)備進(jìn)行現(xiàn)場配置與驗(yàn)證，并且必須為初次測量預(yù)留更久的設(shè)置時(shí)間。借助安捷倫與 Cascade Microtech聯(lián)合推出的晶片級測量解決方案（WMS），半導(dǎo)體客戶現(xiàn)在能夠使用適當(dāng)?shù)脑O(shè)備執(zhí)行精確、可重復(fù)的直流和射頻測量以及器件表征和建模，以便顯著縮短初次測量設(shè)置時(shí)間。

最新的晶片級測量解決方案整合了 Cascade Microtech 的晶圓探針臺(tái)、探針和校準(zhǔn)工具以及安捷倫測試儀器和測量分析軟件，將會(huì)為半導(dǎo)體測試帶來深遠(yuǎn)影響。每種解決方案配置在出廠前均已通過預(yù)先驗(yàn)證，以滿足客戶的特定應(yīng)用需求，在 Cascade Microtech 解決方案專家安裝完畢后，可根據(jù)之前商定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)再次驗(yàn)證配置。安捷倫或 Cascade Microtech 承諾免費(fèi)填補(bǔ)解決方案缺失的任何部件，以確?？蛻粝硎苡斜Ｕ系呐渲?。

另外，在 Agilent WaferPro-XP 測量軟件的基礎(chǔ)上，安捷倫和 Cascade Microtech 共同開發(fā)了獨(dú)特的工作流程解決方案軟件。加上 Cascade Microtech 的 Velox 探針臺(tái)軟件，客戶現(xiàn)在可以開發(fā)出適合多種測量需求的全面晶圓測試套件（例如，S 參數(shù)、DC-IV/CV、噪聲系數(shù)、閃變噪聲和增益壓縮）。這種組合軟件為測試開發(fā)提供了相干環(huán)境。

每個(gè)晶片級測量解決方案均配有完善的支持套件，并且允許客戶聯(lián)系經(jīng)驗(yàn)豐富的區(qū)域解決方案專家以索取晶圓上測試測量技巧。Cascade Microtech 提供單點(diǎn)聯(lián)系方式，幫助客戶迅速解決問題。

 

 

安捷倫副總裁兼元器件測試事業(yè)部總經(jīng)理 Gregg Peters 表示：“安捷倫和 Cascade Microtech 作為測試測量行業(yè)和晶圓上探測領(lǐng)域的全球領(lǐng)導(dǎo)者，它們擁有精深的專業(yè)技術(shù)和豐富的產(chǎn)品生產(chǎn)線，可以提供用于晶片級器件測試的全部構(gòu)建模塊。通過協(xié)同的資源和方案，我們面向雙方共同的半導(dǎo)體客戶首次推出了獨(dú)特的不同以往的晶片級測量解決方案。”

 

Cascade Microtech 總裁兼首席運(yùn)營官 Michael Burger 表示：“半導(dǎo)體制程的開發(fā)、建模和表征任務(wù)日趨復(fù)雜化，而產(chǎn)品上市周期卻在不斷縮減，客戶對測量精度的要求也越來越嚴(yán)苛。我們攜手安捷倫開發(fā)了值得信賴的晶片級測量解決方案，幫助工程師對半導(dǎo)體元件和器件執(zhí)行精確、快速的高級直流和射頻測量，以確保他們及時(shí)推出高質(zhì)量的產(chǎn)品。”

安捷倫和 Cascade Microtech 共同研發(fā)的晶片級射頻測量解決方案現(xiàn)在提供多種配置選擇，從采用半自動(dòng)或手動(dòng)探針臺(tái)的新的高度集成解決方案、到在現(xiàn)有的探針臺(tái)上進(jìn)行特定應(yīng)用硬件升級。新型 Agilent WaferPro-XP 測量軟件平臺(tái)適用于研發(fā)器件表征，可與現(xiàn)有的晶片級測量解決方案配合使用。定價(jià)取決于客戶所選擇的解決方案配置。如欲了解特定定價(jià)和銷售信息，請聯(lián)系您當(dāng)?shù)氐陌步輦惉F(xiàn)場工程師或 Cascade Microtech 銷售經(jīng)理。

如欲了解安捷倫和 Cascade Microtech 共同研發(fā)的晶片級測量解決方案，請?jiān)L問 www.agilent.com/find/wms 和 www.cascademicrotech.com/measureone。瀏覽圖像，請?jiān)L問 www.agilent.com/find/wms_images。有關(guān)背景介紹，請?jiān)L問 www.agilent.com/find/wms_backgrounder。