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電磁干擾的屏蔽方法

EMC問題常常是制約中國電子產(chǎn)品出口的一個原因，本文主要論述EMI的來源及一些非常具體的抑制方法，例如設(shè)計(jì)屏蔽罩。

2011-12-20

電磁干擾 EMI EMC 電磁兼容屏蔽

電子信息產(chǎn)業(yè)：競爭壓力巨大缺乏新增長點(diǎn)

2011年我國電子信息產(chǎn)業(yè)的整體發(fā)展情況可以表述為“持續(xù)平穩(wěn)增長”與“亟待轉(zhuǎn)型升級”。展望2012年，我國電子信息產(chǎn)業(yè)面臨著復(fù)雜多變的國內(nèi)外形勢，既有基礎(chǔ)行業(yè)快速增長、國內(nèi)信息化建設(shè)全面深化、產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)移及布局優(yōu)化調(diào)整積極效應(yīng)開始顯現(xiàn)等有利因素，又有國際市場需求持續(xù)疲軟、產(chǎn)業(yè)競爭程度不斷加劇...

2011-12-14

電子信息產(chǎn)業(yè) 電子信息電子

常用信號完整性的測試手段和在設(shè)計(jì)的應(yīng)用

信號完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開發(fā)中越來越受到重視，而信號完整性的測試手段種類繁多，有頻域，也有時域的，還有一些綜合性的手段，比如誤碼測試。本文對各種測試手段進(jìn)行介紹，并結(jié)合實(shí)際硬件開發(fā)活動說明如何選用，最后給出了一個測試實(shí)例。

2011-12-09

信號完整性測試

影響電阻或電阻率測試的主要因素

本文介紹影響電阻或電阻率測試的五大主要因素，包括：環(huán)境溫濕度、測試電壓（電場強(qiáng)度）、測試時間、測試設(shè)備的泄漏和外界的干擾。

2011-12-09

電阻電阻率測試

HTRN系列：Vishay推出高性能薄膜電阻網(wǎng)絡(luò)用于發(fā)動機(jī)控制及工業(yè)應(yīng)用

日前，Vishay Intertechnology, Inc.宣布，推出新系列可在-55℃～+215℃寬溫條件下工作的雙通道薄膜電阻網(wǎng)絡(luò)---HTRN系列。該系列電阻網(wǎng)絡(luò)的工作溫度范圍比傳統(tǒng)薄膜片式電阻擴(kuò)大了近100℃，絕對TCR低至±25ppm/℃，TCR跟蹤為5ppm/℃，以及±0.05%的嚴(yán)格比例容差。

2011-12-09

HTRN Vishay 電阻薄膜電阻

高速數(shù)據(jù)應(yīng)用中 ESD 抑制技術(shù)簡介【空氣間隙技術(shù)】

高清電視及顯示器的發(fā)展加速提高了信號傳輸速率,除此之外，USB 2.0以及USB 3.0等高速串行協(xié)議的應(yīng)用也使信號速率在不斷提高。隨著信號速率的提高，以前傳統(tǒng)的ESD保護(hù)技術(shù)已顯得過時，多層壓敏電阻、硅二極管的高電容、漏電流以及鉗位電壓已經(jīng)不能提供準(zhǔn)確可靠的保護(hù)，以保證高速信號不發(fā)生明顯的信...

2011-12-06

高速數(shù)據(jù) ESD 抑制空氣間隙

ADIS16488：ADI推出戰(zhàn)術(shù)級10自由度MEMS IMU用于軍用和醫(yī)療設(shè)備

Analog Devices, Inc. (ADI)，全球領(lǐng)先的高性能信號處理解決方案供應(yīng)商，最近正式全面推出第三代iSensor? MEMS IMU（慣性測量單元）ADIS16488，這是一款戰(zhàn)術(shù)級10自由度(DoF)傳感器，在單封裝中集成一個三軸陀螺儀、一個三軸加速度計(jì)、一個三軸磁力計(jì)和一個壓力傳感器。新款MEMS IMU提供最穩(wěn)定、最完...

2011-12-05

ADI MEMS ADIS16488 IMU 傳感器陀螺儀

飛思卡爾i.MX53應(yīng)用處理器等多款產(chǎn)品贏得EDN China年度創(chuàng)新獎

飛思卡爾半導(dǎo)體日前宣布其包括i.MX53在內(nèi)的多款產(chǎn)品榮膺《電子設(shè)計(jì)技術(shù)》（EDN China）雜志2011年度創(chuàng)新獎。其中，i.MX53高性能應(yīng)用微處理器榮獲應(yīng)用微處理器類別最佳產(chǎn)品獎；同時，來自飛思卡爾的其它四款產(chǎn)品分別在相關(guān)類別獲得優(yōu)秀產(chǎn)品獎，包括面向工業(yè)和網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用的入門級通信處理器MPC8309、MM9...

2011-12-02

飛思卡爾 i.MX53 EDN China

信號完整性的電路板設(shè)計(jì)準(zhǔn)則

信號完整性(SI)問題解決得越早，設(shè)計(jì)的效率就越高，從而可避免在電路板設(shè)計(jì)完成之后才增加端接器件。SI設(shè)計(jì)規(guī)劃的工具和資源不少，本文探索信號完整性的核心議題以及解決SI問題的幾種方法，在此忽略設(shè)計(jì)過程的技術(shù)細(xì)節(jié)。

2011-12-02

信號完整性 SI 電路板 PCB

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