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教你如何分析晶振起振問(wèn)題
發(fā)布時(shí)間:2014-05-14 責(zé)任編輯:sherryyu
【導(dǎo)讀】什么是晶振起振問(wèn)題?晶振起振問(wèn)題就是晶振的負(fù)載電容匹配可能不合適,導(dǎo)致晶振不起振。那么引起晶振問(wèn)題的原因是什么呢?本文一位技術(shù)工程師結(jié)合自己的工作來(lái)教給大家如何分析晶振起振問(wèn)題。
晶振起振問(wèn)題,晶振的負(fù)載電容匹配可能不合適,導(dǎo)致晶振不起振。
現(xiàn)象:
系統(tǒng)工作偶爾不正常。
最近在一個(gè)項(xiàng)目中,遇到一個(gè)很奇怪的問(wèn)題。系統(tǒng)偶爾會(huì)不工作。而且跑了四個(gè)周的系統(tǒng),中間出現(xiàn)過(guò)一次。后來(lái)不知道怎么恢復(fù)了。當(dāng)今天再次遇到,感覺(jué)這種情況,肯定是哪里有問(wèn)題,不可能是運(yùn)氣使然。
這里將問(wèn)題最終歸結(jié)到晶振上,是因?yàn)閱?wèn)題的可重復(fù)性。
在第一次出現(xiàn)時(shí),盡管在其他地方都進(jìn)行過(guò)測(cè)量,但是沒(méi)有懷疑到晶振上,所以一直沒(méi)有將問(wèn)題再次重現(xiàn)(后來(lái)莫名系統(tǒng)恢復(fù)了正常)。
如果,問(wèn)題沒(méi)有重現(xiàn),就無(wú)法分析問(wèn)題。因?yàn)榭赡艿牡胤教唷?/div>
而這次問(wèn)題再次出現(xiàn)時(shí),只有當(dāng)在晶振上觸碰時(shí),問(wèn)題得到了重現(xiàn),因此證明跟晶振這里有問(wèn)題。
1、測(cè)試分析過(guò)程:
2、首先萬(wàn)用表測(cè)量AD輸出引腳(串行輸出,連接MCU),AD輸出端沒(méi)有轉(zhuǎn)換完成信號(hào)(一個(gè)下降沿)出現(xiàn)。
3、這個(gè)時(shí)候,如果人為將AD輸出端拉低,系統(tǒng)工作正常。
4、所以,MCU端應(yīng)該沒(méi)有出現(xiàn)異常。
5、但是,AD端很長(zhǎng)一段時(shí)間都是工作正常的,為什么突然工作出現(xiàn)了異常。
6、在用示波器測(cè)試了各個(gè)地方之后,最終懷疑到了晶振上。
7、當(dāng)將示波器探頭放到XTAL1上時(shí),系統(tǒng)恢復(fù)正常工作。如果將探頭拿下,則系統(tǒng)不再工作。
8、由此斷定,系統(tǒng)工作異常的原因,出現(xiàn)在晶振起振上。
9、后來(lái)先將負(fù)載電容調(diào)大一些,發(fā)現(xiàn)依然無(wú)法起振。
10、之后將負(fù)載電容調(diào)小了一些,晶振起振。系統(tǒng)恢復(fù)正常工作。
注:
對(duì)于晶振引起的問(wèn)題很多時(shí)候很難發(fā)現(xiàn),這個(gè)要十分注意。當(dāng)其他地方,都檢測(cè)過(guò)沒(méi)有之后,可能就要考慮晶振問(wèn)題了。并聯(lián)電容,接地,晶振不良率,都有可能導(dǎo)致晶振起振出現(xiàn)問(wèn)題。
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