【導讀】利用運算放大器輸入的比較特性,把基于運算放大器的速測儀設(shè)計成具有快速、準確的判斷所測運放好壞的功能。這種功能在元器件選擇中十分有用。
電路原理
測試儀基本設(shè)計思路是將待測運算放大器(圖中IC1,IC2,IC3,IC4)接成比較器結(jié)構(gòu),當V+>V-時,Vout為正電源狀態(tài),接近VCC。發(fā)光二極管Vd1發(fā)光。當V+>V-時,為負電源狀態(tài),接近Vee,發(fā)光二極管Vd2亮。為此,用R1,R2設(shè)置 V+=1/2{Vcc-Vee}=0[對E點電位]R3R4Rp組成V-電壓偏置電路,向下調(diào)節(jié)Rp,可是V-V+,Vd2發(fā)光。電阻R5R6C1C2構(gòu)成電源分裂電路,將9V電源分成2*4.5V,使Ve=0v即Vdd=+4.5v,Vee=-4.5v,滿足運算放大器雙電源應(yīng)用的要求。
電路中R7~R14為輸入端串聯(lián)電阻,目的是當測試多運算放大器時,其中某一運算放大器輸入端損壞后不影響其他運算放大器的測試,電路設(shè)計中用二個8腳,一個14腳DIP插座,從而滿足通用型單,雙,四運放的測試。
測試儀的調(diào)試
測試儀有二個八腳一個十四腳集成電路DIP插座,結(jié)合發(fā)光二極管和電源構(gòu)成。插座1用于測量單運放,7腳接電源正,4腳接電源負,2腳輸入負,3腳輸入正6腳輸出。插座2測量雙運放,8腳為電源正,4腳為電源負,2,6腳輸入負,3,5腳輸入正,1,7腳為輸出。插座3測量四運放,4腳為電源正,11腳為電源負,2、6、9、13腳輸入負3、5、10、12腳輸入正1、7、8、14腳為輸出。電路圖中IC1、IC2、IC3是作為原理給于說明,實際上插座1,插座2,插座3的接線應(yīng)按以上進行連接,只要接線正確,幾乎不用調(diào)試。R5、R6應(yīng)盡可能相等,確保為虛地。R5、R6由于是電源裂變電阻又是發(fā)光二極管的限流電阻,可在200-510歐間選擇。阻值小,發(fā)光亮耗電大。阻值大,發(fā)光弱,不易觀察。R1、R2、R3、R4應(yīng)盡可能相等,保證偏置為"地",阻值在10k-100k中間選擇Rp為同數(shù)量級的線性電位器,在中間做一個刻度線,以便調(diào)節(jié)。(電路圖上所標電阻的數(shù)值僅供參考,制作時可根據(jù)手中已有的電阻去做選擇)VD1-VD8選擇異色發(fā)光二極管便于區(qū)分。測量前關(guān)掉電源,將插入待測集成電路,單運放,雙運放,四運放要分別插入對應(yīng)的插座中,注意管腳位置不能插反,然后閉合K調(diào)節(jié)Rp觀察,根據(jù)發(fā)光管狀態(tài)判其好壞.測試完后斷電,取下集成電路。注意不能帶電插拔集成電路,以免造成集成電路的損壞。
測試儀使用方法
將被測單運放(IC1)插入插座DIP1中,接通電源向下調(diào)節(jié)Rp,Vd1發(fā)光:向上調(diào)節(jié)Rp,Vd2發(fā)光,當RP處在中間位置時,輸出為零,Vd1、Vd2發(fā)微光。在進行雙運放測試時,把被測雙運放(IC1,IC2)插入插座DIP2中,向下調(diào)節(jié)Rp,Vd1、Vd3亮。向上調(diào)節(jié) Rp,Vd2、Vd4發(fā)光;在對四運放(IC1,IC2,IC3,IC3)進行測試時,被測運放插入插座DIP3中,向下調(diào)節(jié) Rp,Vd1Vd3Vd5Vd7發(fā)光;向上調(diào)節(jié)Rp,Vd2Vd4Vd6Vd8發(fā)光。測試中不必去尋找中點,只要觀察發(fā)光管的變化狀態(tài),就能判斷其比較特性的優(yōu)劣。對于多運放的測試,應(yīng)當慢慢調(diào)節(jié)Rp,以便觀察發(fā)光二極管的發(fā)光亮度及亮滅時間差異來判斷其多運放的一致特性。如果在測試中調(diào)節(jié)RP時只有一種狀態(tài),而不變化,說明該運放已失去比較特性而損壞,不能使用。
圖解:電路圖
集成運算放大器輸出過流保護電路設(shè)計