電子設(shè)備與系統(tǒng)不斷增加的復(fù)雜性，更高的數(shù)據(jù)速率，使這些設(shè)備的測(cè)試面臨更多挑戰(zhàn)。當(dāng)速率較低時(shí)，單路測(cè)試即可滿足要求。但是，如果數(shù)據(jù)速率較高，工程師可能會(huì)遇到更多的串?dāng)_問(wèn)題。因此，針對(duì)不同干擾源和干擾信號(hào)應(yīng)用多路測(cè)試就變得十分重要。例如 PCIe® 3 具有高達(dá) 16 個(gè)差分 8 Gb/s 通道，還有10 Gb/s PON、40 GbE 和 100 GbE，要求 4 至 10 個(gè) 10 Gb/s 通道。在測(cè)試設(shè)置中廣泛使用射頻開(kāi)關(guān)切換會(huì)增加信號(hào)的額外損耗和反射。工程師現(xiàn)在使用新的 M8030A 多通道 比特誤碼率測(cè)試儀，無(wú)需再使用這些射頻開(kāi)關(guān)。

 

14 插槽 AXIe 主機(jī)增強(qiáng)了廣泛使用的 J-BERT M8020A 的能力，支持從 4 通道擴(kuò)展至 10 通道，這意味著主機(jī)能夠同時(shí)有效支持最多 8 個(gè) PCIe 通道進(jìn)行 ASIC 測(cè)試。其他應(yīng)用包括內(nèi)含多個(gè)光網(wǎng)絡(luò)單元（ONU）的多通道無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)（PON）系統(tǒng)測(cè)試。M8070A 軟件新的 3.0 版本集成了眾所周知的 M8070A 用戶界面下的所有模塊，因此能夠確保已有用戶快速掌握。 

 

是德科技副總裁兼數(shù)字與光測(cè)試事業(yè)部總經(jīng)理 Jürgen Beck 表示：“是德科技在比特誤碼率測(cè)試儀測(cè)試領(lǐng)域的專業(yè)知識(shí)源于我們長(zhǎng)期致力于提供市場(chǎng)領(lǐng)先的高速數(shù)字測(cè)試解決方案。通過(guò)持續(xù)擴(kuò)充我們的 M8000 系列 BER 測(cè)試解決方案，我們支持客戶專注于其業(yè)務(wù)需求，無(wú)需花費(fèi)大量時(shí)間應(yīng)對(duì)最新的測(cè)試挑戰(zhàn)。”

 

除了完善的 ParBERT 81250 延遲解決方案，新的 M8030A 多通道比特誤碼率測(cè)試儀提供了面向每個(gè)通道的集成的抖動(dòng)注入、8 分接去加重和可調(diào)的碼間干擾（ISI）功能。在分析儀方面，每個(gè)通道都擁有時(shí)鐘恢復(fù)和 CTLE。高集成度可以幫您節(jié)省占地面積，提高測(cè)試結(jié)果的可重復(fù)性。 

 

M8030A 多通道比特誤碼率測(cè)試儀可提供兩種機(jī)箱和控制器套件：M8030A-BU1，包括機(jī)箱和一臺(tái) AXIe 嵌入式控制器；以及 M8030A-BU2，可用于從外部 PC 通過(guò) PCI Express® 進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。