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LDO和DC-DC變換器的區(qū)別
LDO是為彌補(bǔ)傳統(tǒng)線性穩(wěn)壓器不足之處存在的低壓差的線性穩(wěn)壓器,如需輸入電壓要高于輸出電壓,那么LDO線性穩(wěn)壓器能夠達(dá)到效果。DC-DC變換器被大家熟知,下面我們來分析一下二者的區(qū)別。
2014-10-09
LDO DC-DC變換器
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一款電風(fēng)扇自動溫控調(diào)速器電路
本文為大家介紹的是一個電風(fēng)扇自動溫控調(diào)速器電路設(shè)計,該電風(fēng)扇自動溫控調(diào)速器可根據(jù)溫度變化情況自動調(diào)節(jié)電風(fēng)扇的轉(zhuǎn)速,電路加以調(diào)整,也可用于其它電氣設(shè)備的控制。
2014-10-09
電風(fēng)扇 溫控調(diào)速器
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工程師學(xué)習(xí)嵌入式必知的13個法則
工程師學(xué)習(xí)嵌入式,特別是在入門時,一些重要的知識點(diǎn)很重要。這里通過實(shí)踐、整理、分析,將自己在學(xué)習(xí)嵌入式開發(fā)過程中所總結(jié)的一些嵌入式法則、整理如下以供大家參考。
2014-10-09
嵌入式 工程師
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詳解密碼芯片設(shè)計中的反熔絲FPGA
反熔絲FPGA對于大多數(shù)設(shè)計可提供實(shí)現(xiàn)較好的性能,這是由于其可編程鏈路的電阻較小(反熔絲接點(diǎn)電阻50Ω左右),具有較好的 布線靈活性,不會妨礙信號傳送,并以最直接的通路進(jìn)行,因而可大大提高芯片速度。
2014-10-09
芯片設(shè)計 反熔絲FPGA
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創(chuàng)新技術(shù):在FPGA上實(shí)現(xiàn)3D圖像處理器IP核
目前,嵌入式系統(tǒng)數(shù)字化產(chǎn)品成為繼PC機(jī)后的信息處理工具。隨著嵌入式技術(shù)的發(fā)展,圖形處理也從2D圖形向3D圖形轉(zhuǎn)變。本文采用OpenGL作為系統(tǒng)的圖形API,選取21條基本API命令,定義命令字編碼和渲染列表格式作為IP核的設(shè)計規(guī)約。
2014-10-08
FPGA IP核
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技術(shù)詳解:關(guān)于藍(lán)牙個人局域網(wǎng)的應(yīng)用測試步驟
本文詳細(xì)解析了藍(lán)牙個人局域網(wǎng)的應(yīng)用測試相關(guān)步驟,從實(shí)際出發(fā),把藍(lán)牙PAN的互操作性測試模型作為案例,結(jié)合軟件測試自動化技術(shù)和協(xié)議一致性測試的理論實(shí)踐,詳解藍(lán)牙應(yīng)用的互操作性測試的特點(diǎn),總結(jié)出藍(lán)牙軟件模型的自動化測試方法。
2014-10-08
個人局域網(wǎng) 藍(lán)牙測試
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那些我們所忽視的電源測試問題
一提到電源測試,我們首先想到的是紋波測試、過載測試、動態(tài)斜率。對于直流電源,用于評價直流純凈度的最好的測試方法就是紋波測試。對于過壓、過流、過溫,我們會進(jìn)行過載測試。動態(tài)斜率是做電源響應(yīng)速度測試時的參數(shù)。
2014-10-06
電源測試
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技術(shù)總結(jié):單片機(jī)硬件設(shè)計經(jīng)驗(yàn)之談(二)
針對單片機(jī)硬件設(shè)計過程中出現(xiàn)的問題以及原則,小編為大家總結(jié)一下經(jīng)驗(yàn),主要從兩個方面入手,一方面從關(guān)鍵元件著手,例如RAM,ROM等芯片旁邊安裝去耦電容。一方面從元器件布局方面入手,把相互之間有關(guān)元件放的靠近。
2014-10-06
單片機(jī) 干擾
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技術(shù)總結(jié):單片機(jī)硬件設(shè)計經(jīng)驗(yàn)之談(一)
針對單片機(jī)硬件設(shè)計過程中出現(xiàn)的問題以及原則,小編為大家總結(jié)一下經(jīng)驗(yàn),主要從兩個方面入手,一方面從關(guān)鍵元件著手,例如RAM,ROM等芯片旁邊安裝去耦電容。一方面從元器件布局方面入手,把相互之間有關(guān)元件放的靠近。
2014-10-06
單片機(jī) 干擾
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