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測量MLCC靜電容量的注意事項

發(fā)布時間:2019-01-23 責任編輯:xueqi

【導讀】當測量片狀多層陶瓷電容器(MLCC)的靜電容量時,測量值是否大于或小于標稱值?以下介紹諸如此類問題的解決辦法以及注意事項。
 
溫度補償型(低容量)測定的注意事項
 
溫度補償型(低容量)MLCC在靜電容量測定時、測定值比公稱值或大、或小。
 
按以下順序進行說明。
 
1)測定治具的“O”補正是?
2)OPEN補正時的端子間距離和靜電容量測定值
3)靜電容量測定值的變化理由
4)測定時的注意事項
 
1)測定治具的“O”補正是?
 
①如下圖MLCC在測定時、會發(fā)生
?測定線上串聯電阻以及電感
?MLCC夾住時測定端子間的浮游容量
 
造成不能準確的測定MLCC的靜電容量。所以、為了消除這些影響因素的行為就稱為『測定治具的“O”補正』。
 
測定前的OPEN補正、SHORT補正就屬于此補正。
 
 
②OPEN補正是把MLCC夾住時測定端子間的浮游容量消除、SHORT補正是把測定線上串聯電阻以及電感消除
 
 
③在OPEN補正、SHORT補正后、MLCC測定精度可以得到確保。
 
 
2)OPEN補正時的端子間距離和靜電容量測定值
 
以1pF的MLCC靜電容量測定為例、改變OPEN補正時的測試治具端子間距離然后確認靜電容量,結果、OPEN補正時端子間距離比MLCC的L尺寸越大靜電容量測定值也越大、比MLCC的 L尺寸小靜電容量測定值也變小。
 
 
■測定條件
 
品名 :GRM0334C1H1R0B
測定器 :HP4278A
測定治具:HP TEST FIXTURE16034E(挾み込み型)
條件 :1±0.1MHz/1±0.2Vrms
 
 
3)靜電容量測定值的變化理由
 
■為何OPEN補正時端子間距離會使靜電容量測試值產生變化呢?
 
 
金屬和金屬間存在絕緣體的話就會產生靜電容量。因為空氣也是絕緣體所以測定端子間會發(fā)生靜電容量。
 
金屬和金屬間的距離越短端子間靜電容量越大 
 
 
OPEN補正端子間距離和靜電容量測定結果
 
 
4)測定時的注意事項
 
<OPEN補正時的重點>OPEN補正端子間距離和靜電容量測定結果
 
OPEN補正時的端子間距離、請和瓷片的L寸法一致。
 
測定治具端子間距離長的情況下進行OPEN補正、補正時的浮游容量比實際的測定時的靜電容量小。 
 
 
OPEN補正端子間距離和MLCC L寸法不一樣的狀態(tài)下進行補正、治具自身的浮游容量就不能得到正確的0補正。
 
OPEN補正時端子間距離比MLCC L寸法小、導致治具間的浮游容量比實際大的情況下0補正、結果補正后的測定結果變小。
 
相反,端子間距離比MLCC L寸法大時、補正后的測定結果變大。
 
OPEN補正時端子間距離的偏差、比起使用夾具型的測定治具(例如Agilent16034)、鑷子型的治具(例如Agilent16334)的偏差要大些。
 
鑷子型的治具和夾具型的相比、測定端子先端的面積(式①的S)大、所以因端子間距離的差異而產生的靜電容量測定值的變動也大。
 
高介電常數型(大容量)測定的注意事項
 
高介電常數型(大容量)MLCC在の靜電容量測定時、測定值比公稱值小。  
  
按以下順序進行說明。
 
1)大容量MLCC的測定事例
2)靜電容量測定值低下的理由
3)測定時的注意事項
 
1)大容量MLCC的測定事例
 
大容量和非大容量MLCC在ALC (Automatic Level Control )ON/OFF的狀態(tài)下測定靜電容量。結果如下。
 
■測定條件
 
品名:GRM188R60J106K/ GRM188B11H103K
測定器 :Agilent E4980A
測定治具:Agilent TEST FIXTURE16334(鑷子型)
條件 : GRM188R60J106K;1±0.1KHz/0.5±0.1Vrms
     GRM188B11H103K;1±0.1KHz/1.0±0.2Vrms
⇒大容量的靜電容量測定時、ALC 設定OFF與ALC設定ON的狀態(tài)下相比,靜電容量測定值要小
 
■靜電容量測定結果
 
 
2)靜電容量測定值低下的理由
 
各種情況下用萬用表測試測定電壓的結果如下。
對于大容量MLCC、ALC 設置OFF時測定電壓值不滿足測定條件
 
■測定條件:1±0.1KHz/0.5±0.1Vrms
 
 
■測定條件:1±0.1KHz/1.0±0.2Vrms
 
 
■靜電容量變大時、為何測定電壓Vc變?。浚?/div>
           
靜電容量C、以
 
 
來表示。
 
靜電容量C變大的話 Zc會變小。
 
在測定電路中、測定電壓Vc以
 
 
來表示。
 
所以、Zc變小的話測定電壓Vc也變小。
 
 
■測定電壓Vc變小時、為何靜電容量的測定結果變???
           
MLCC的靜電容量會隨著周圍溫度、印加的電壓值的變化而變化。
 
測定條件20℃、1KHz時的MLCC的AC電壓特性如下圖所示。
 
 
AC電壓變化靜電容量也變化、0.5Vrms的印加電壓小靜電容量也變小。
 
3)測定時的注意事項
 
■靜電容量低時、準備好萬用表對測定電壓進行測量。
 
如果、測定電壓比規(guī)定的測定電壓小的話
①設定ALC  ON
②使用能發(fā)生規(guī)定電壓的測定器
 
測定電壓在測定時、如下照片把萬用表搭在測定治具的兩端。
 
 
關于高誘電系積層陶瓷電容的老化
 
高誘電系陶瓷電容器,主要構成成分為鈦酸鋇(BaTiO3)。本系列電容器具有靜電容量隨著時間的推移而變小的現象。這個現象就叫作靜電容量的老化特性。
 
BaTiO3系是下圖1所示的鈣鈦框形結構,在居里點以上溫度時,就是這樣的立方形。
 
 
BaTiO3系陶瓷電容器加熱到居里點以上時,結晶構造由正方晶系轉變成立方晶系。冷卻到居里點溫度以下時,結晶構造由立方晶系轉變成正方晶系。(圖2)
 
總之,結晶對的微細構造加熱到居里點以上溫度時,就能恢復到最初狀態(tài),老化也就再次開始。
 
由于老化減少的靜電容量,在貴公司安裝工程的加熱過程可以恢復。
 
[補充資料]
 
高誘電系的積層陶瓷電容器的靜電容量,以經過125℃以上的熱處理24小時后的值作為基準,與時間成對數關系直線性下降。請參考如下本公司制品靜電容量老化特性的代表例子。
 
 
補充資料/ GRM188B11H103K測定比較
 
 
來源:村田制作所
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