時間：2011年7月26日 10:00 - 12:00

本次研討會我們將討論影響示波器測量準確度的一系列因素：半導體器件本身的影響因素如DC增益，偏置，非線性度，頻響曲線的線性度，通道之間的匹配，量化誤差等; 測試環(huán)境特別是探頭的因素，如探頭的地線，探頭的負載效應，探頭擺放的位置，地環(huán)路的干擾等以及算法本身的影響因素。這些影響因素中，最關鍵的也是最大的一個影響因素是量化誤差。 力科的WaveRunner HRO 6Zi 12位ADC的高精度示波器能夠減小量化誤差的影響，提供更高的信噪比，更大的動態(tài)范圍，給測量帶來更高的測量準確度，因此在一系列的應用中帶來了獨特的價值，如小電壓信號的測量，大電壓信號中的局部小信號測量，更精確的FFT測量，相位噪聲測量等。

通過本次研討會，您不僅可以了解到那些因素會影響到示波器的測量精度，同時您也將了解到示波器業(yè)內(nèi)唯一具有12位ADC的高精度實時數(shù)字示波器--力科的WaveRunner HRO 6Zi的測量精確度以及其在傳感器系統(tǒng)、醫(yī)療系統(tǒng)、射頻調(diào)制系統(tǒng)、電源測量系統(tǒng)中的應用。

歡迎您的參與！舉辦網(wǎng)址：http://webcast.ednchina.com/529/Content.aspx